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Fachartikel: IoT-Testen - Überlassen Sie das Denken dem Testfall

Überlassen Sie das Denken dem Testfall

Das Internet der Dinge (engl. „Internet of Things“, Kurzform: IoT) wächst exponentiell – und das Testen muss mit dieser Entwicklung Schritt halten. Möglicherweise haben Sie dies in einem Beitrag gelesen, den ich im vergangenen Jahr veröffentlicht habe [TSE]. Dieser neue Beitrag befasst sich mit der Technologie, die wir benötigen, um die exponentielle Zunahme von Testfällen einzuschränken. Wir werfen einen Blick in die Zukunft des IoT-Testens, in welcher der Testfall die Denkleistung übernimmt.

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in: Online-OBJEKTspektrum, 11.11.2016
Autor: Tom van de Ven (Sogeti International)

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    Tom van de Ven
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Buchveröffentlichung: Testing in an IoT Environment